7800 ICP-MS
Agilent 7800 ICP-MS 已被全新的智能 7850 ICP-MS 儀器取代。7850 ICP-MS 配置可實現(xiàn)常規(guī) ICP-MS 應(yīng)用的快速設(shè)置和簡化分析，從而節(jié)省了時間，并使您的實驗室輕松獲得出色的結(jié)果
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Product Details
Features
- 快速提高常規(guī)金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包括預(yù)設(shè)方法，這些方法可輕松載入并以預(yù)定義設(shè)置（從等離子體條件到分析物積分時間和內(nèi)標(biāo)）運行。對于新方法，方法向?qū)Э苫跇悠奉愋秃蛻?yīng)用創(chuàng)建方法。
- 減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標(biāo)配獨特的高基質(zhì)進(jìn)樣 (HMI) 技術(shù)，無需稀釋即可分析總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 含量高達(dá) 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節(jié)省了時間。
- 最大程度減小信號抑制 — HMI 可減小信號抑制，因此可以準(zhǔn)確測定高基質(zhì)樣品而無需基質(zhì)匹配的校準(zhǔn)標(biāo)樣。
- 有效去除干擾，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性 — 氦 (He) 碰撞模式可在同一套質(zhì)譜條件下去除多原子離子干擾，簡化了方法開發(fā)與日常操作。He 模式無需針對特定基質(zhì)或分析物的反應(yīng)池條件。
- 在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態(tài)范圍正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可在一次運行中實現(xiàn)常量元素（數(shù)百或數(shù)千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的濃度上限可減少由超量程結(jié)果造成的樣品再運行。
- 最大程度提高通量和分析效率 — 可選的集成進(jìn)樣系統(tǒng) (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進(jìn)樣器可在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的前提下降低每次分析的成本。
Technology
Literature
- Key Literature
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Solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
Fast-track your metals analysis with solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
- Brochures
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- 01 Aug 2019
- 1.18 MB
Fast-track your metals analysis with the Agilent 7800 ICP-MS
General metals analysis with the solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
- Flyers
- English
- 28 May 2015
- 1.42 MB
Fast-track your environmental waste analysis with the Agilent 7800 ICP-MS
Waste analysis with the solution-ready Agilent 7800 Quadrupole ICP-MS
- Flyers
- English
- 29 May 2015
- 1.46 MB
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ICP-MS 接口錐常見問題解答現(xiàn)已發(fā)布！
接口錐對 ICP-MS 性能至關(guān)重要 — 它們直接影響靈敏度、穩(wěn)定性和系統(tǒng)的長期可靠性。了解如何選擇、維護(hù)和優(yōu)化接口錐是讓您的儀器獲得最佳結(jié)果的關(guān)鍵。 探索安捷倫專家全新發(fā)布的 ICP-MS 接口錐常見問題解答，將您的知識提升到新的高度！
- 14 Aug 2025
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